申请/专利权人：慧荣科技股份有限公司

申请日：2020-02-05

公开（公告）日：2024-03-12

公开（公告）号：CN112543028B

主分类号：H03M13/11

分类号：H03M13/11

优先权：["20190920 TW 108133930"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.12#授权;2021.04.09#实质审查的生效;2021.03.23#公开

摘要：本发明涉及一种产生具符合所需的错误基数的低密度奇偶校验码的方法及其装置。该方法包含利用奇偶校验产生电路产生低密度奇偶校验码、利用检测电路根据数据库中的多个陷阱集共用结构检测低密度奇偶校验码并产生至少一陷阱集共用结构资讯、利用验证电路根据低密度奇偶校验码分别与各陷阱集共用结构资讯进行重要性取样模拟以得到对应的估算错误基数、利用验证电路将各估算错误基数与预期错误基数进行比较，及于所有估算错误基数皆小于预期错误基数时利用验证电路输出低密度奇偶校验码。

主权项：1.一种产生具有符合所需的错误基数errorfloor的低密度奇偶校验码Low-DensityParity-Checkcode，LDPCcode的方法，包含：利用一奇偶校验产生电路产生一低密度奇偶校验码；利用一检测电路根据一数据库中的多个陷阱集共用结构trappingsetcore对该低密度奇偶校验码进行检测，并产生该低密度奇偶校验码的至少一陷阱集共用结构资讯，其中各该陷阱集共用结构资讯包含该些陷阱集共用结构中之一者、该陷阱集共用结构于该低密度奇偶校验码中的出现数量以及出现位置，且各该陷阱集共用结构资讯所包含的该陷阱集共用结构互不相同；利用一验证电路根据该低密度奇偶校验码分别与各该陷阱集共用结构资讯进行一重要性取样ImportanceSampling，IS模拟，以得到各该陷阱集共用结构资讯对应的一估算错误基数；利用该验证电路将各该估算错误基数与一预期错误基数进行比较；及于所有该估算错误基数皆小于或等于该预期错误基数时，利用该验证电路输出该低密度奇偶校验码。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 慧荣科技股份有限公司 产生具有符合所需的错误基数的低密度奇偶校验码的方法及装置

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