申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

申请日：2024-02-06

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN117705822A

主分类号：G01N21/892

分类号：G01N21/892;G01N21/01;G06T7/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.02#实质审查的生效;2024.03.15#公开

摘要：本发明属于图像识别技术领域，公开了一种基于CIS的圆柱体表面检测方法、装置及存储介质，方法包括：S1，将圆柱体的两个端面中的任一个作为基准平面，控制CIS传感器的位置，使得CIS传感器所在的平面平行于圆柱体的轴线；S2，改变CIS传感器的中心与基准平面之间的距离，每改变一次距离，便控制圆柱体围绕轴线旋转一周，在圆柱体旋转时使用CIS传感器获取圆柱体的侧面图像，从而得到多张侧面图像；S3，使用CIS传感器分别获取圆柱体的两个端面的端面图像；S4，对侧面图像和端面图像进行图像识别，判断圆柱体表面是否存在预设类型的缺陷。本发明能够在不增加CIS传感器的成本的同时，实现了对高度比较高的圆柱体的外观的检测。

主权项：1.一种基于CIS的圆柱体表面检测方法，其特征在于，包括：S1：将圆柱体的两个端面中的任一个作为基准平面，控制CIS传感器的位置，使得CIS传感器所在的平面平行于圆柱体的轴线；S2：改变CIS传感器的中心与基准平面之间的距离，每改变一次距离，便控制圆柱体围绕轴线旋转一周，在圆柱体旋转时使用CIS传感器获取圆柱体的侧面图像，从而得到多张侧面图像；S3：使用CIS传感器分别获取圆柱体的两个端面的端面图像；S4：对侧面图像和端面图像进行图像识别，判断圆柱体表面是否存在预设类型的缺陷。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种基于CIS的圆柱体表面检测方法、装置及存储介质

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