申请/专利权人：塞莫费雪科学(不来梅)有限公司

申请日：2023-09-14

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN117711906A

主分类号：H01J49/06

分类号：H01J49/06;G01N27/62;H01J49/28;H01J49/10

优先权：["20220914 GB 2213503.2"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.02#实质审查的生效;2024.03.15#公开

摘要：本发明提供了一种确定对将感兴趣种类的离子射束注入到包括质量分析器的质谱仪的静态场滤质器中的预期响应的方法。该方法包括：针对测试离子种类、测试磁场强度和测试电场强度的各种组合，测量注入到静态场滤质器中的离子的浓烈度；确定与等于所测得的峰值浓烈度的第一分数和第二分数的浓烈度对应的电场强度；基于该静态场滤质器的磁场强度、电场强度和中心质量之间的预先确定关系，确定与所确定的电场强度对应的质量值；以及从所述质量值、针对每个离子种类且针对这些测试磁场强度中的至少一个测试磁场强度，对针对感兴趣的离子种类的预期质量值进行插值。

主权项：1.一种针对目标离子质量确定用于质谱仪的离子过滤器的带通范围的方法，所述方法包括：将至少两个离子种类引入所述离子过滤器中；通过改变至少一个过滤器参数来扫描每个离子种类的质量范围；使用所述质谱仪来确定与每个所扫描质量相关联的离子浓烈度；登记每个所扫描质量范围的所述离子浓烈度和所述相关联的过滤器参数；针对每个所扫描质量范围，确定最大离子浓烈度和所述相关联的中心质量；针对每个所扫描质量范围，确定：与第一离子浓烈度相关联的第一质量，所述第一离子浓烈度对应于所述相应最大浓烈度的第一分数，以及与第二离子浓烈度相关联的第二质量，所述第二离子浓烈度对应于所述相应最大浓烈度的第二分数，其中所述第一质量低于所述离子种类的所述中心质量，并且所述第二质量高于所述离子种类的所述中心质量；以及针对具有已知中心质量的所述目标离子质量，从所扫描质量的所确定的第一离子浓烈度和所确定的第二离子浓烈度导出具有所述相关联的第一离子浓烈度和所述相关联的第二离子浓烈度的所述质量，其中所述导出包括：使用第一插值函数从所述第一质量对具有所述相关联的第一离子浓烈度的第一预期质量进行插值；以及使用第二插值函数从所述第二质量对具有所述相关联的第二离子浓烈度的第二预期质量进行插值。

全文数据：

权利要求：

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