申请/专利权人：清华大学

申请日：2024-03-15

公开（公告）日：2024-05-07

公开（公告）号：CN117995645A

主分类号：H01J49/00

分类号：H01J49/00;H01J49/26

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.24#实质审查的生效;2024.05.07#公开

摘要：本申请涉及离子阱质谱仪技术领域，特别涉及一种离子阱质谱仪质量精度校准方法、装置、电子设备及介质，其中，方法包括：获取质荷比参考样品；将质荷比参考样品输入标定完成的离子阱质谱仪，在不同扫描频率和或不同电源幅值情况下采集标定完成的离子阱质谱仪的质荷比；根据不同扫描频率和或不同电源幅值情况下的质荷比生成曲面拟合函数，利用曲面拟合函数对目标离子阱质谱仪进行质量精度校准。由此，解决了相关技术中对质荷比拟合过程中部分误差无法消除，导致离子阱质谱仪质量校准精度较低等问题。

主权项：1.一种离子阱质谱仪质量精度校准方法，其特征在于，包括以下步骤：获取质荷比参考样品；将所述质荷比参考样品输入标定完成的离子阱质谱仪，在不同扫描频率和或不同电源幅值情况下采集所述标定完成的离子阱质谱仪的质荷比；根据不同扫描频率和或不同电源幅值情况下的质荷比生成曲面拟合函数，利用所述曲面拟合函数对目标离子阱质谱仪进行质量精度校准。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 清华大学 离子阱质谱仪质量精度校准方法、装置、电子设备及介质

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