申请/专利权人：广州全界通讯科技有限公司

申请日：2023-12-13

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN117706330A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G06F17/11

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.02#实质审查的生效;2024.03.15#公开

摘要：本发明涉及噪声测试领域，公开了一种面向5G及演进技术的芯片噪声测试方法及系统，该方法包括：当检测到待测芯片和芯片噪声测试系统连接时，获取噪声信号和待测芯片的工作条件数据；根据待测芯片的工作条件数据，确定待测芯片的状态数量；基于噪声信号通过预设测试算法对待测芯片进行预设次数的自动噪声测试，得到待测芯片在各个状态下的噪声测试数据，预设次数和待测芯片的状态数量相对应；根据待测芯片在各个状态下的噪声测试数据，确定待测芯片在各个状态下的噪声性能数据，本发明通过确定待测芯片的噪声测试次数，对待测芯片进行与状态数量对应次数的自动噪声测试，从而实现自动对芯片噪声性能进行测试，简化了噪声测试过程。

主权项：1.一种面向5G及演进技术的芯片噪声测试方法，其特征在于，应用于面向5G及演进技术的芯片噪声测试系统，所述方法包括：当检测到待测芯片和芯片噪声测试系统连接时，获取噪声信号和待测芯片的工作条件数据；根据所述待测芯片的工作条件数据，确定待测芯片的状态数量；基于噪声信号通过预设测试算法对待测芯片进行预设次数的自动噪声测试，得到待测芯片在各个状态下的噪声测试数据，所述预设次数和所述待测芯片的状态数量相对应；根据所述待测芯片在各个状态下的噪声测试数据，确定待测芯片在各个状态下的噪声性能数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 广州全界通讯科技有限公司 一种面向5G及演进技术的芯片噪声测试方法及系统

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