申请/专利权人：四川玖谊源粒子科技有限公司

申请日：2024-01-17

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN117706607A

主分类号：G01T1/29

分类号：G01T1/29;H05H7/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.02#实质审查的生效;2024.03.15#公开

摘要：一种用于强磁场中负离子脉冲引出的测量结构，包括法拉第筒，所述法拉第筒包括外筒和尾筒，所述外筒顶部设置有引出极板，所述引出极板中央有通孔，所述外筒侧壁底部具有向外的弧形包线形状的第一延伸部，所述第一延伸部的横向距离与轴向距离之比为1.2‑1.4:1，所述尾筒侧壁底部具有向外的弧形包线形状的第二延伸部，所述第二延伸部横向距离与轴向距离之比为0.45‑0.5：1。采用本发明所述用于强磁场中负离子脉冲引出的测量结构，通过设计外筒和尾筒的延伸部尺寸，增大垂直的轴向尺寸，引导电子朝法拉第筒尾部流动，减少二次电子产生，使得法拉第筒尾部具有相对稳定的电场环境，有效降低了击穿打火现象发生几率。

主权项：1.一种用于强磁场中负离子脉冲引出的测量结构，包括法拉第筒，所述法拉第筒包括外筒和尾筒，其特征在于，所述外筒顶部设置有引出极板，所述引出极板中央有通孔，所述外筒侧壁底部具有向外的弧形包线形状的第一延伸部，所述第一延伸部的横向距离与轴向距离之比为1.2-1.4:1，所述尾筒侧壁底部具有向外的弧形包线形状的第二延伸部，所述第二延伸部横向距离与轴向距离之比为0.45-0.5：1。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 四川玖谊源粒子科技有限公司 一种用于强磁场中负离子脉冲引出的测量结构

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