申请/专利权人：中国测试技术研究院声学研究所

申请日：2021-12-15

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN114199475B

主分类号：G01M3/26

分类号：G01M3/26

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.15#授权;2022.04.05#实质审查的生效;2022.03.18#公开

摘要：本发明涉及漏率测量技术领域，提供了一种基于差分式处理法测量漏率的方法及装置，所述方法通过将被测漏孔件与差分式漏率测量装置连接形成一密闭空间，将预定差压范围划分为若干项数的等差数列，调节活塞装置使差压计示值依次分别处于该等差数列的每一项差压值，同时测量每一项差压值下密闭空间的总漏率得到数列Qi，根据数列Qi是否满足预定条件判断接头处和被测漏孔漏气气流处于的泄漏状态，并估算得到被测漏孔与接头处漏率的大小关系。本发明实现了在不需要考虑接头漏率与被测漏孔漏率相对大小关系的特定条件以及环境温度变化影响的情况下，对密封件被测漏孔和接头处漏率进行便捷、高效的测量，提供了一种新的漏率测量方法，提升了用户体验。

主权项：1.一种基于差分式处理法测量漏率的方法，其特征在于，包括：将被测漏孔件与差分式漏率测量装置连接形成一密闭空间，在所述密闭空间内外有差压时，所述被校接头处和所述被测漏孔处均发生有漏气现象，所述差分式漏率测量装置包括活塞装置和差压计，所述活塞装置用于调节所述密闭空间的气压大小，所述差压计用于度量所述密闭空间气压的变化值；将差压范围[-a,a]划分为若干项数的等差数列Pi，其中，a≤100Pa，i为正整数，在排除所述接头处无较大泄漏的情况下，调节所述活塞装置使所述差压计示值依次分别处于所述等差数列的每一项差压值，同时测量每一项差压值下所述密闭空间的总漏率，得到数列Qi；根据所述数列Qi是否满足预定条件判断所述被测漏孔与所述接头处漏率的大小关系：若所述数列Qi∝|Pi|，则所述被测漏孔和所述接头处气流均处于分子流状态，所述被测漏孔漏率Q1与所述接头处漏率Q2满足若所述数列Qi∝U2i+|Ri|，Ui+Ri＝Pi，则所述被测漏孔处气流处于粘滞流状态且所述接头处气流处于分子流状态，接头处漏率Q2忽略不计，被测漏孔漏率Q1≈Qi，若所述数列Qi∝P2i，则所述被测漏孔和所述接头处气流均处于粘滞流状态。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国测试技术研究院声学研究所 一种基于差分式处理法测量漏率的方法及装置

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