申请/专利权人：上海华力微电子有限公司

申请日：2020-06-29

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN111782695B

主分类号：G06F16/2455

分类号：G06F16/2455;G06F16/215;G06F16/2458;G06F11/22

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.15#授权;2020.11.03#实质审查的生效;2020.10.16#公开

摘要：本发明提供了一种MPW多产品联测的数据处理方法、存储介质以及计算机设备。数据处理方法包括以下步骤，输入MPW多产品联测的第一测试数据；从第一测试数据中分离出每个被测试产品的测试数据，得到已区分出N个被测试产品的第二测试数据；将每个被测试产品的产品信息和或产品标识与其对应的第二测试数据关联，得到MPW多产品联测的第三测试数据；根据每个被测试产品的测试需求，使用第三测试数据生成MPW多产品联测的IP测试评价报告。本发明提供的MPW多产品联测的数据处理方法，能够一次性区分并处理所有被测试产品的测试数据，提高了测试数据处理效率，极大地缩短了评价周期。而且，对每个产品的数据进行数据统计及分析，极大地提高了IP评价的效率。

主权项：1.一种MPW多产品联测的数据处理方法，其特征在于，包括以下步骤，S1：输入MPW多产品联测的第一测试数据；S2：从所述第一测试数据中分离出每个被测试产品的测试数据，得到已区分出N个所述被测试产品的第二测试数据，其中，N为所述被测试产品的个数；S3：将每个所述被测试产品的产品信息和或产品标识与其对应的所述第二测试数据关联，得到MPW多产品联测的第三测试数据；S4：根据每个所述被测试产品的测试需求，使用所述第三测试数据生成MPW多产品联测的IP测试评价报告；其中，在步骤S2之前，还包括对所述第一测试数据进行预处理；所述预处理包括删除异常测试数据和或采用数据库第一关联算法，对所述第一测试数据进行关联预处理；其中，所述删除异常测试数据包括从所述第一测试数据中删除由工艺缺陷带来的异常测试数据；所述数据库第一关联算法包括对所述第一测试数据增加裸片信息、测试条件信息、和或对所述第一测试数据中的测量值统一单位；所述测试条件信息包括工艺、电压信息和或温度信息；步骤S2中，从所述第一测试数据中分离出每个被测试产品的测试数据，得到已区分出N个所述被测试产品的第二测试数据的方法包括，对于所述第一测试数据中的每条测试记录，根据裸片在晶圆上的位置信息以及所述被测试产品的总个数，提取每个所述被测试产品的所有测试记录，得到所述第二测试数据；步骤S2中，所述对于所述第一测试数据中的每条测试记录，根据裸片在晶圆上的位置信息以及所述被测试产品的总个数，提取每个所述被测试产品的所有测试记录的方法包括，所述位置信息包括X向坐标值和Y向坐标值，对所述X向坐标值使用所述被测试产品的总个数执行ModX,N，根据取模运算的结果，确定所述测试记录对应的所述被测试产品；式中，X为所述X向坐标值；N为所述被测试产品的总个数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海华力微电子有限公司 MPW多产品联测的数据处理方法、存储介质及计算机设备

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