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【发明公布】缺陷检测方法、缺陷检测系统、终端设备及存储介质_深圳市研祥金码软件有限公司_202311799789.7 

申请/专利权人:深圳市研祥金码软件有限公司

申请日:2023-12-25

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN117726610A

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T5/77

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.03.19#公开

摘要:本申请适用于缺陷检测技术领域,提供了缺陷检测方法、缺陷检测系统、终端设备及存储介质,包括:获取待测显示屏的图像,得到待测图像;对所述待测图像进行凸包拟合处理,得到拟合后的所述待测图像;根据拟合前的所述待测图像和拟合后的所述待测图像之间的差异确定差分图像;根据所述差分图像判断所述待测显示屏是否存在缺陷。本申请可以提高显示屏缺陷检测的准确性。

主权项:1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括:获取待测显示屏的图像,得到待测图像;对所述待测图像进行凸包拟合处理,得到拟合后的所述待测图像;根据拟合前的所述待测图像和拟合后的所述待测图像之间的差异确定差分图像;根据所述差分图像判断所述待测显示屏是否存在缺陷。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳市研祥金码软件有限公司 缺陷检测方法、缺陷检测系统、终端设备及存储介质

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