申请/专利权人：意法半导体有限责任公司

申请日：2023-09-15

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117725029A

主分类号：G06F16/16

分类号：G06F16/16;G06F16/172;G06F11/22

优先权：["20220916 IT 102022000019056","20230911 US 18/464,811"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本公开涉及集成电路卡、测试简档的修改方法、测试方法及装置。一种集成电路包括存储器和处理电路系统。存储器存储基本文件测试EFT文件，该文件包括存储用于更新EFT的文件系统中的目标基本文件TGF的信息的记录。所存储的信息包括识别EFT文件的文件系统中TGF的位置的文件路径标识符，其是父文件标识符后面跟着TGF的标识符的串联；第一类型的数据的第一长度指示符；第一类型的数据；指示第二类型的数据的长度的第二长度指示符；以及第二类型的数据。处理电路系统在操作中基于文件路径标识符识别TGF并且将TGF的内容更新为包括第一数据和第二数据的一个或多个实例。

主权项：1.一种方法，包括：在集成电路的基本文件测试EFT文件的记录中存储用于更新EFT文件的文件系统中的目标基本文件TGF的信息，存储的信息包括：文件路径标识符，识别EFT文件的文件系统中TGF的位置，其中文件路径标识符是EFT文件的文件系统中TGF的父文件的父文件标识符后面跟着EFT文件的文件系统中TGF的标识符的串联；第一长度指示符，指示第一类型的数据的长度；第一类型的第一数据，具有与由第一长度指示符指示的长度对应的长度；第二长度指示符，指示第二类型的数据的长度；以及第二类型的第二数据，具有与由第二长度指示符指示的长度对应的长度；以及基于存储的信息更新TGF，更新TGF包括：基于文件路径标识符识别TGF；以及将TGF的内容更新为包括：第一数据；以及第二数据的一个或多个实例，其中第二数据的所述一个或多个实例的数量基于TGF的尺寸。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 意法半导体有限责任公司 集成电路卡、测试简档的修改方法、测试方法及装置

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