申请/专利权人：江苏大学

申请日：2020-02-24

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN111368470B

主分类号：G06F30/23

分类号：G06F30/23

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2020.07.28#实质审查的生效;2020.07.03#公开

摘要：本发明提供了一种粗糙表面的建模方法，包括如下步骤：建立粗糙表面微元模型：确定粗糙表面微元的形貌；确定粗糙表面微元的特征参数的取值；建立粗糙表面微元的相对曲面方程；将阵列分布的若干粗糙表面微元建立在待建模表面上，得出包含若干粗糙表面微元的粗糙表面的曲面方程。本发明建立的粗糙表面模型能体现出粗糙表面轮廓高度的非平稳随机变化；同时粗糙表面尺度可控，多个粗糙表面搭接便利，可组合形成大范围粗糙表面模型，且模型实际数据量较少；而且本发明的技术方案更加适用于单一表面分区不同粗糙度的表征。

主权项：1.一种粗糙表面的建模方法，其特征在于，包括如下步骤：建立粗糙表面微元模型：确定粗糙表面微元的形貌；确定粗糙表面微元的特征参数的取值；建立粗糙表面微元的相对曲面方程；所述粗糙表面微元的特征参数包括方形表面区域范围dk和微结构的高度或深度hk；其中：k为粗糙表面微元序列号；K为粗糙表面微元序列号的集合，k∈K＝{1，2，3...kmax}；kmax为粗糙表面微元最大序列号；所述微结构的高度或深度hk的确定具体为：根据粗糙度的轮廓算术平均偏差Ra和粗糙度的相对于轮廓平均线偏差的均方根值Rq进行随机确定微结构的高度或深度hk，具体如下：微结构的高度或深度满足期望为μ、方差为σ2的正态分布，所述μ＝Ra，σ＝Rq，故有联立方程组通过逼近法求解ζk，可得到微结构的高度或深度hk的集合其中：μ为正态分布的期望；σ为正态分布的均方差；H为微结构的高度或深度的集合，H＝{hk|k＝1，2，3...kmax}；fh为高度或深度h的正态分布的概率函数；ζk为hk的取值系数；pk为hk的取值符号系数；signk为pk取值的随机数；posk为正态分布概率；Pos为正态分布概率的集合，将阵列分布的若干粗糙表面微元建立在待建模表面上，得出包含若干粗糙表面微元的粗糙表面的曲面方程。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 江苏大学 一种粗糙表面的建模方法

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