申请/专利权人：深圳市天龙世纪科技发展有限公司

申请日：2023-12-11

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117395707B

主分类号：H04W24/08

分类号：H04W24/08

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2024.01.30#实质审查的生效;2024.01.12#公开

摘要：本申请实施例提供了一种MTK耦合测试方法、系统及介质，该方法包括：获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号；根据优化信号进行调制，得到调试信号；根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果；将耦合结果与预设的结果进行比较，得到耦合偏差；根据耦合偏差生成补偿信息，根据补偿信息对调制信号进行补偿，得到补偿结果；根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端；通过射频信号对MTK进行耦合测试，并根据耦合测试结果进行实时调整射频信号，从而提高耦合测试精度。

主权项：1.一种MTK耦合测试方法，其特征在于，包括：获取射频信号，将射频信号进行预处理，得到优化信号；根据优化信号进行调制，得到调试信号；根据调试信号对MTK进行耦合测试，得到耦合结果；将耦合结果与预设的结果进行比较，得到耦合偏差；根据耦合偏差生成补偿信息，根据补偿信息对调制信号进行补偿，得到补偿结果；根据补偿结果对MTK进行二次耦合，并得到测试信息，将测试信息按照预定的方式传输至终端。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市天龙世纪科技发展有限公司 一种MTK耦合测试方法、系统及介质

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