申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

申请日：2021-09-30

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN113850740B

主分类号：G06T5/73

分类号：G06T5/73;G06T5/20;G06T7/12;G06T7/13

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权;2022.01.14#实质审查的生效;2021.12.28#公开

摘要：本发明提供了一种菌落计数方法，包括以下步骤：S1、对获取的培养皿图像进行预处理，得到培养皿区域图像Hx；S2、采用基于均值滤波的去雾算法对培养皿区域图像Hx进行处理，得到去雾图像Gx；S3、获取去雾图像Gx中各个菌落图像的轮廓，根据菌落图像的轮廓上的凹点对去雾图像Gx进行分割，分割出各个菌落图像的轮廓，统计菌落图像的轮廓的数量。本发明的菌落计数方法能够实现对菌落的快速计数，提高菌落计数的速度与精确度。

主权项：1.一种菌落计数方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、对获取的培养皿图像进行预处理，得到培养皿区域图像Hx；S2、采用基于均值滤波的去雾算法对所述培养皿区域图像Hx进行处理，得到去雾图像Gx；S3、获取所述去雾图像Gx中各个菌落图像的轮廓，根据所述菌落图像的轮廓上的凹点对所述菌落图像的轮廓进行分割，统计分割后所述菌落图像的轮廓的数量；所述步骤S3包括如下步骤：S31、对所述去雾图像Gx中的各个所述菌落图像的轮廓进行缝隙填充，获得完整的菌落图像的轮廓；所述步骤S31包括以下步骤：S311、利用自适应Canny算子获取所述去雾图像Gx中各个所述菌落图像的轮廓；S312、将所述菌落图像的轮廓上相邻两点用直线连接；所述相邻两点不在各自的八邻域内，但在预设缝隙范围内；S32、对所述菌落图像的轮廓进行滤波处理；S33、利用曲率尺度空间算法计算各个所述菌落图像的轮廓的角点并筛选出凹点；所述步骤S33包括以下步骤：S331、对各个所述菌落图像的轮廓进行高斯卷积，计算卷积后各个所述菌落图像的轮廓的曲率，曲率极大值点为所述角点；S332、根据自适应局部阈值与角度范围去掉所述菌落图像的轮廓上错误的角点，并采用非极大值抑制的方法去除重复的角点；S333、根据检测出的所述角点进一步筛选判断为凹点的角点；S34、根据所述凹点的个数对所述凹点进行连线，并对粘连的菌落进行分割；所述凹点的判断方法包括：分别选取检测出的所述角点两侧的轮廓上的点P1和P2，标记出P1和P2的中点Pmid；如果所述中点Pmid位于轮廓外，则该角点为凹点。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种菌落计数方法

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