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【发明授权】测力薄膜传感器、牙齿矫正器及制备方法_北京石墨烯技术研究院有限公司_202210574100.X 

申请/专利权人:北京石墨烯技术研究院有限公司

申请日:2022-05-25

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN114923608B

主分类号:G01L1/22

分类号:G01L1/22;A61C7/00;A61C7/08

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.19#授权;2022.09.06#实质审查的生效;2022.08.19#公开

摘要:本发明公开了一种测力薄膜传感器、牙齿矫正器及制备方法。测力薄膜传感器包括依次顺序层叠连接的基底、绝缘层、镍基碳膜电阻栅层及保护层,镍基碳膜电阻栅层连接有第一电极与第二电极。测力薄膜传感器的制备方法,包括如下步骤:对基底清洁干燥处理;在基底上制备绝缘层;在绝缘层上制备镍基碳膜电阻栅层,制备与镍基碳膜电阻栅层连接的第一电极与第二电极;在镍基碳膜电阻栅层上制备保护层。牙齿矫正器包括矫正器本体、导引线以及测力薄膜传感器,测力薄膜传感器设置于矫正器本体的内侧壁,第一电极、第二电极分别连接有导引线。本发明的测力薄膜传感器能够降低金属薄膜的电阻温度漂移系数,降低测量误差,提高矫正力大小的测量精度。

主权项:1.一种测力薄膜传感器,其特征在于,包括依次顺序层叠连接的基底、绝缘层、镍基碳膜电阻栅层以及保护层,所述镍基碳膜电阻栅层连接有第一电极与第二电极,所述基底为柔性薄膜材料制备而成的柔性基底,所述基底的厚度为0.003~0.01mm,所述基底的表面粗糙度不大于200nm;所述绝缘层包括依次顺序层叠连接的第一绝缘子层、第二绝缘子层以及第三绝缘子层,所述第一绝缘子层为Al2O3层,所述第二绝缘子层为Si3N4层,所述第三绝缘子层为Al2O3层。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京石墨烯技术研究院有限公司 测力薄膜传感器、牙齿矫正器及制备方法

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