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【发明授权】一种痕量物质取样装置、分析系统及取样方法_北京泰峰科仪技术有限公司_202111258144.3 

申请/专利权人:北京泰峰科仪技术有限公司

申请日:2021-10-27

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN113945431B

主分类号:G01N1/22

分类号:G01N1/22

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.19#授权;2022.02.08#实质审查的生效;2022.01.18#公开

摘要:本文提供一种痕量物质取样装置、分析系统及取样方法。所述痕量物质取样装置包括取样头,所述取样头上设有供气通道和取样通道,所述供气通道设置成能向待取样的物质吹气,所述取样通道设置成用于流经所述待取样的物质后的气流通过,以完成对被测痕量物质的快速取样操作。

主权项:1.一种痕量物质取样装置,其特征在于,包括取样头,所述取样头上设有供气通道和取样通道,所述供气通道设置成能向待取样的物质吹气,所述取样通道设置成用于流经所述待取样的物质后的气流通过;取样操作时所述取样头与待取样的表面接触;所述取样头上开设有凹槽以形成富集区,所述供气通道的出气口和所述取样通道的进气口均与所述凹槽连通;所述痕量物质取样装置还包括气体驱动组件,所述气体驱动组件设置成能驱动气流依次流经所述供气通道、所述凹槽和所述取样通道;所述痕量物质取样装置还包括第一加热组件;所述第一加热组件设于所述供气通道内,或者集成于气体驱动组件上;所述第一加热组件设置成对流向或流经所述供气通道的气流进行加热;所述加热范围为40℃~70℃;所述痕量物质取样装置还包括第二加热组件,所述第二加热组件设置成对所述凹槽的侧壁进行加热;所述加热范围为35℃~45℃;所述痕量物质取样装置还包括压力检测模块,所述压力检测模块设于设置在凹槽周圈的取样头的壳体上;提前预设压力阈值,所述取样头接触待取样的表面且所述压力检测模块检测的压力值超过压力阈值时,所述痕量物质取样装置自动开启取样检测工作。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京泰峰科仪技术有限公司 一种痕量物质取样装置、分析系统及取样方法

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