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【发明公布】一种红外热像仪连续变焦机构结构公差设计方法及装置_中国电子科技集团公司第十一研究所_202311830502.2 

申请/专利权人:中国电子科技集团公司第十一研究所

申请日:2023-12-28

公开(公告)日:2024-03-22

公开(公告)号:CN117741960A

主分类号:G02B27/00

分类号:G02B27/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要:本发明涉及一种红外热像仪连续变焦机构结构公差设计方法,具体为:基于连续变焦机构的机械加工件、标准件和光学元件,对连续变焦机构光轴跳动的影响因素进行分析,确定主要影响因素;基于连续变焦机构的机械加工件,并基于尺寸链原理,构建装配尺寸链;基于光学成像指标,将光学参数转换为机械加工件的线性参数,基于线性参数,得到机械加工件对应的装配尺寸链中封闭环的数值;依据等公差法,对装配尺寸链中组成环进行公差分配,确定装配尺寸链中各组成环的实际公差,并基于实际公差,结合入体原则,确定各组成环的极限偏差;对极限偏差进行核算,得到核算结果,在核算结果符合装配尺寸链中封闭环的数值的情况下,确定连续变焦机构结构公差。

主权项:1.一种红外热像仪连续变焦机构结构公差设计方法,其特征在于,包括:基于连续变焦机构的机械加工件、标准件和光学元件,对连续变焦机构光轴跳动的影响因素进行分析,确定主要影响因素;基于连续变焦机构的机械加工件,并基于尺寸链原理,构建装配尺寸链;从所述光学元件对应的光学成像指标中,得到光学参数,并将所述光学参数转换为所述机械加工件的线性参数,通过对所述线性参数的处理,得到所述机械加工件对应的装配尺寸链中封闭环的数值;依据等公差法,对所述装配尺寸链中组成环进行公差分配,确定所述装配尺寸链中各组成环的实际公差,并基于所述实际公差,结合入体原则,确定各组成环的极限偏差;对所述极限偏差进行核算,得到核算结果,在所述核算结果,符合所述装配尺寸链中封闭环的数值的情况下,确定所述连续变焦机构结构公差。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子科技集团公司第十一研究所 一种红外热像仪连续变焦机构结构公差设计方法及装置

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