申请/专利权人：北京华铠安全防护技术有限公司

申请日：2023-12-05

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117747399A

主分类号：H01J49/00

分类号：H01J49/00;G01N27/622

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明涉及IMS设备校准技术领域，具体地说，涉及基于电晕形成的氮氧化物对IMS设备的校准方法。其包括迁移管本体，迁移管本体包括有电离区和迁移区，本发明离子迁移谱系统处于检测状态时，漂移气入口d产生的气路会将电离源产生的氮氧化物从出气口a吹走，减少氮氧化合物其与电子的结合，保证系统对样品的检测灵敏度，当离子迁移谱系统需要校准时，控制迁移区内部气路使得迁移管本体内的电离区中存在大量的氮氧化合物，通过检测其离子峰来对离子迁移谱系统进行校准，在校准过程中不对样品进行检测，不含内部实体校准物，从而利用电离源电晕形成的氮氧化合物来对IMS设备进行校准，无内部校准物，简化系统气路，降低生产成本，提高系统可靠性。

主权项：1.基于电晕形成的氮氧化物对IMS设备的校准方法，其特征在于：包括如下步骤：S1、通过将电磁阀400与校准气口b203和进样口c204连接的管道设置为开启状态，同时闭合出气口a202管道，气流从校准气口b203处流出，电离源201附近的氮氧化合物与离子反应产生硝酸根离子，经过离子门朝着法拉第盘301移动，谱图上出现硝酸根离子的反应峰，通过计算反应峰的峰位对设备进行校准；S2、设备校准完成时，样品通过进样器加热气化进入电离区200，样品与电离区200的离子反应生成产物离子，产物离子通过离子门进入迁移管本体100的迁移区300，在电场303作用下朝着法拉第盘301移动，不同的产物离子在迁移管本体100内移动的速度不同，到达离子接收极法拉第盘301的时间会有差异，区分不同样品成分；其中，所述迁移管本体100包括有电离区200和迁移区300；所述电离区200包括有电离源201，所述电离源201周围设有气路组件，气路组件连接有电磁阀400，通过调节气路组件的启闭自动对IMS设备进行校准，所述电离区200一侧设有迁移区300，所述迁移区300内部设有电场303，所述迁移区300用于在设备正常运行作业时，将电离源201电离空气产生的氮氧化合物及时吹走，通过离子迁移率判断被测物品类别。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京华铠安全防护技术有限公司 基于电晕形成的氮氧化物对IMS设备的校准方法

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