申请/专利权人：炬芯科技股份有限公司

申请日：2022-09-14

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117743041A

主分类号：G06F11/22

分类号：G06F11/22

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及调试方法、装置及存储介质，以解决IO资源紧张的芯片排错难题。本发明实施例提供的调试方法包括，对芯片内部的目标信号源进行采样，获取至少两个目标信号；将所述至少两个目标信号进行合并，得到第一目标信号；通过单个IO资源输出所述第一目标信号；基于所述第一目标信号对所述芯片进行调试。通过该方法，用单个IO资源将芯片内部多个目标信号同时放出，有效解决了IO资源紧张的芯片排错难题。

主权项：1.一种调试方法，其特征在于，包括：对芯片内部的目标信号源进行采样，获取至少两个目标信号；将所述至少两个目标信号进行合并，得到第一目标信号；通过单个输入输出IO资源输出所述第一目标信号；基于所述第一目标信号对所述芯片进行调试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 炬芯科技股份有限公司 调试方法、装置及存储介质

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