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【发明公布】一种低反射光吸收层表面漫反射测量方法_江苏北方湖光光电有限公司_202311624312.5 

申请/专利权人:江苏北方湖光光电有限公司

申请日:2023-11-30

公开(公告)日:2024-03-22

公开(公告)号:CN117740736A

主分类号:G01N21/47

分类号:G01N21/47;G01N21/55;G01N21/01

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要:本发明涉及材料反射率测试技术领域,具体涉及一种低反射光吸收层表面漫反射测量方法。包括如下步骤:步骤S1:对漫反射测试参数进行设置;步骤S2:在测试端口放置标准样品,即冠状低反射标准漫反射板,进行基线扫描和校零;步骤S3:取下冠状低反射标准漫反射板,放置测试样品,即涂覆低反射光吸收层的冠状零件进行测试;步骤S4:测得的数据,再乘以冠状零件的校准数据值,所得结果即为样品的反射漫数据;步骤S5:数据处理采用全谱段取算术平均值,即在400nm~1100nm的波长范围内,每隔5nm取反射率值,计算算术平均值来表征光吸收层的漫反射率。本发明可以相对计算出大角度入射情况下光吸收层的漫反射率,有利于表征入射光在入射角0°~60°时的漫反射情况。

主权项:1.一种低反射光吸收层表面漫反射测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1:对漫反射测试参数进行设置;步骤S2:在测试端口放置标准样品,即冠状低反射标准漫反射板,进行基线扫描和校零;步骤S3:取下冠状低反射标准漫反射板,放置测试样品,即涂覆低反射光吸收层的冠状零件进行测试;步骤S4:测得的数据,再乘以冠状零件的校准数据值,所得结果即为样品的反射漫数据;步骤S5:数据处理采用全谱段取算术平均值,即在400nm~1100nm的波长范围内,每隔5nm取反射率值,计算算术平均值来表征光吸收层的漫反射率。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 江苏北方湖光光电有限公司 一种低反射光吸收层表面漫反射测量方法

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