申请/专利权人：深圳明锐理想科技股份有限公司

申请日：2023-12-26

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117745698A

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G01N21/88;G06N3/0464;G06N3/045;G06T7/70;G06T7/60

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本申请实施例涉及AOI设备技术领域，公开了一种AOI设备的元件窗体编程方法、AOI设备及存储介质。其中，方法包括：对PCB板进行拍摄及处理，获得模拟图像；在PCB板对应的绘图源文件中，确定目标料号；在模拟图像中与目标元件对应的位置，裁取获得指定尺寸的图像块；将指定尺寸的图像块输入第一卷积神经网络模型中，获得模拟图像中的所有待检测元件的本体包围矩；确定模拟图像中接近图像中心区域的目标待测元件；将目标待测元件的目标本体包围矩和所属的焊盘区域组合，在模拟图像中获得目标待测元件的检测窗体。本申请无需技术人员为每一类元件绘制窗体，可以减少大量编程时间，在获得元件检测窗体后，可以对元件检测窗体分析，从而确定不良品。

主权项：1.一种AOI设备的元件窗体编程方法，其特征在于，所述方法包括：对PCB板进行拍摄及处理，获得模拟图像，PCB板上具有若干个待检测的目标元件；在PCB板对应的绘图源文件中，确定目标元件的目标料号，绘图源文件包括元件的中心点位置和目标料号；根据所述中心点位置与所述目标料号，获得指定尺寸的图像块，并将图像块输入至第一卷积神经网络模型中获取所有待检测的目标元件的本体包围矩，本体包围矩包括待检测元件的本体窗的类别、位置和尺寸；在所有目标元件中，确定模拟图像中接近图像中心区域的目标待测元件；将指定尺寸的图像块分别输入第一卷积神经网络模型和第二卷积神经网络模型，获取目标待测元件所属的焊盘区域；将目标待测元件的包围矩和所属的焊盘区域组合，在模拟图像中获得目标待测元件的检测窗体。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳明锐理想科技股份有限公司 AOI设备的元件窗体编程方法、AOI设备及存储介质

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