买专利,只认龙图腾
首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

【发明公布】IGBT模块大气中子失效率的评估方法、装置、电子设备和存储介质_中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室));南方电网科学研究院有限责任公司_202311793569.3 

申请/专利权人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室));南方电网科学研究院有限责任公司

申请日:2023-12-22

公开(公告)日:2024-03-22

公开(公告)号:CN117741385A

主分类号:G01R31/26

分类号:G01R31/26;G01R31/265

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要:本申请提供一种IGBT模块大气中子失效率的评估方法、装置、电子设备和存储介质,其中,IGBT模块大气中子失效率的评估方法包括:获取IGBT模块的辐照试验的数据,其中;基于辐照试验过程中发生失效的样品数量r和有效样品总注量TSUM,计算IGBT模块的辐照试验失效率λACC;基于IGBT模块的辐照试验失效率λACC、有效样品总注量TSUM、辐照试验过程中发生失效的样品数量r,计算失效率置信区间;获取目标环境下的平均中子通量Φ;基于目标环境下的平均中子通量Φ、IGBT模块的辐照试验失效率λACC,计算IGBT模块在目标环境下的真实失效率;将IGBT模块在目标环境下的真实失效率和失效率置信区间作为IGBT模块的失效率评估结果。本申请能够实现对IGBT模块大气中子失效率进行评估。

主权项:1.一种IGBT模块大气中子失效率的评估方法,其特征在于,所述方法包括:获取IGBT模块的辐照试验的数据,其中,所述辐照试验的数据包括:辐照试验过程中发生失效的样品数量r、有效样品总注量TSUM;基于所述辐照试验过程中发生失效的样品数量r和所述有效样品总注量TSUM,计算所述IGBT模块的辐照试验失效率λACC;基于所述IGBT模块的辐照试验失效率λACC、所述有效样品总注量TSUM、所述辐照试验过程中发生失效的样品数量r,计算失效率置信区间;获取目标环境下的平均中子通量Φ;基于所述目标环境下的平均中子通量Φ、所述IGBT模块的辐照试验失效率λACC,计算所述IGBT模块在所述目标环境下的真实失效率;将所述IGBT模块在所述目标环境下的真实失效率和所述失效率置信区间作为所述IGBT模块的失效率评估结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室));南方电网科学研究院有限责任公司 IGBT模块大气中子失效率的评估方法、装置、电子设备和存储介质

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。