申请/专利权人：深圳大普微电子股份有限公司

申请日：2023-12-15

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117746967A

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56;G06F11/07

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本申请实施例涉及存储设备应用领域，公开了一种注错测试系统、注错测试方法及相关装置，注错测试系统包括：注错信息传输系统，连接注错信息处理系统，用于在第一命令结构体的信息与注错信息匹配时，将注错信息赋予第二命令结构体，注错信息包括命令错误类型；注错信息处理系统，连接注错信息传输系统，用于根据第二命令结构体中的注错信息注入相应类型的读错误，命令错误类型与读错误均包括无法纠正错误、数据校验错误、空错误或读超时错误。本申请能够在注入读错误时，根据注错信息灵活注入相应类型的读错误，从而能够在触发各种具体类型的读错误下对相应的读错误处理流程进行验证，提高注错测试效率。

主权项：1.一种注错测试系统，其特征在于，包括注错信息传输系统与注错信息处理系统，其中，注错信息传输系统，连接注错信息处理系统，用于在第一命令结构体的信息与注错信息匹配时，将所述注错信息赋予第二命令结构体，其中，所述注错信息包括命令错误类型，所述第一命令结构体与所述第二命令结构体不同，所述第一命令结构体为注错命令的结构体；注错信息处理系统，连接注错信息传输系统，用于根据所述第二命令结构体中的注错信息注入相应类型的读错误，其中，所述命令错误类型与所述读错误均包括无法纠正错误、数据校验错误、空错误或读超时错误。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳大普微电子股份有限公司 注错测试系统、注错测试方法及相关装置

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