申请/专利权人：首都师范大学

申请日：2023-12-07

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117743760A

主分类号：G06F18/10

分类号：G06F18/10;G01R27/26;G06F17/14

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明提供一种太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法和装置，该方法包括：获取太赫兹波垂直射入到太赫兹波段材料样本后的透射信号和反射信号；根据透射信号和反射信号，确定太赫兹波段材料样本的初始介电参数；确定初始介电参数中包括的多种类型的噪声，去除多种类型的噪声，得到目标介电参数。本发明的方法对介电参数中存在的多种类型的噪声进行针对性的去除，也就可以有效地提升介电参数中噪声去除的针对性和准确性，提升介电参数中噪声去除的效率和准确性，达到提升介电参数准确性的效果。

主权项：1.一种太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法，其特征在于，包括：获取太赫兹波垂直射入到太赫兹波段材料样本后的透射信号和反射信号；根据所述透射信号和反射信号，确定所述太赫兹波段材料样本的初始介电参数；确定所述初始介电参数中包括的多种类型的噪声，去除所述多种类型的噪声，得到目标介电参数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 首都师范大学 太赫兹波段材料参数测量中噪声的去除方法和装置

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