申请/专利权人：深圳市彩达威科技有限公司

申请日：2020-06-05

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN111504462B

主分类号：G01J3/46

分类号：G01J3/46;G01J3/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2024.03.19#专利申请权的转移;2020.09.01#实质审查的生效;2020.08.07#公开

摘要：本发明公开一种可优化重复性的双光束测光装置，包括积分球、电控光调制器、测试光路以及参考光路；积分球包括光源、被测窗口、测试出射窗口、参考出射窗口；所述测试出射窗口与被测窗口分别位于所述积分球上下方的球面上；所述参考出射窗口与参考光路组成的光路光轴落在所述积分球内壁上；所述电控光调制器可以通过电控方式实现透明、雾化两种状态的切换；还提供基于上述可优化重复性的双光束测光装置重复性优化方法。本发明提供的可优化重复性的双光束测光装置仅采用一个积分球的结构实现有效校准两个传感器的不一致变化的功能，其结构简单、装配方便、易于微型化。

主权项：1.一种可优化重复性的双光束测光装置，其特征在于：包括积分球、电控光调制器、测试光路以及参考光路；所述测试光路包括测试耦合光路、测试传感器；所述参考光路包括参考耦合光路、参考传感器；所述积分球包括光源、被测窗口、测试出射窗口、参考出射窗口；所述测试出射窗口与被测窗口分别位于所述积分球上下方的球面上，具体的，所述被测窗口与测试出射窗口位于积分球的同一个过球心的截面圆上；所述参考出射窗口与参考光路组成的光路的光由所述积分球内壁反射发出；所述电控光调制器可以通过电控方式实现透明、雾化两种状态的切换；所述积分球上还设有光吸收阱，所述测试出射窗口位于所述被测窗口法线的一侧，所述光吸收阱位于所述被测窗口法线的另一侧，所述测试出射窗口与被测窗口法线构成的光线出射角大小等于所述吸收阱与所述被测窗口法线构成的光线入射角大小；所述积分球内还设有挡板，用于防止光源发射的光直接照射到被测物上；当所述电控光调制器在透明状态时，所述电控光调制器透过的光谱范围为400nm~700nm；所述电控光调制器在雾化状态时，所述电控光调制器出射面的散射光呈现朗伯散射或接近朗伯散射；基于上述可优化重复性的双光束测光装置的重复性优化方法，包括以下步骤：S1：于所述可优化重复性的双光束测光装置开机时进行白、黑光谱发射率校准；具体的，在做白校准时，在电控光调制器呈透明状态下，记录下测试光路、参考光路的测量值Uw1λ和Uw2λ；在做黑校准时，在电控光调制器呈透明状态下，记录下测试光路、参考光路的测量值Ub1λ和Ub2λ；在做黑校准时，在电控光调制器呈雾化状态下，记录测试光路、参考光路的测量值U01λ和U02λ，计算比例系数k0λ，其计算公式为：k0λ=U01λU02λ；S2：实际测量时，在电控光调制器呈透明状态下，记录测试光路、参考光路的测量值Ut1λ和Ut2λ；在电控光调制器呈透明状态下，记录测试光路、参考光路的测量值Un1λ和Un2λ，并计算比例系数knλ，计算公式为：knλ=Un1λUn2λ；当测试光路、参考光路传感器受温度、震动、电子干扰性能发生改变且改变不一致，即k0λ≠knλ，对传感器测量数据进行修正，修正公式：U1λ=Ut1λ*k0λknλ及U2λ=Ut2λ；S3：结合工作标准白板反射率Rsλ，计算获得最终发射光谱数据R，其计算公式为：R=fRsλ,Uw1λ,Uw2λ,Ub1λ,Ub2λ,U1λ,U2λ。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市彩达威科技有限公司 一种可优化重复性的双光束测光装置及优化方法

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