申请/专利权人：广州市德珑电子器件有限公司

申请日：2023-10-18

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117391019B

主分类号：G06F30/367

分类号：G06F30/367;G06F30/398;G06F30/392;G06V30/422

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2024.01.30#实质审查的生效;2024.01.12#公开

摘要：本申请涉及一种EMI电源滤波器的仿真测试方法、装置、设备以及介质，所述方法包括识别待测电路的电路图，根据预设的电路元件表，生成所述待测电路的拓扑电路图；获取滤波器参数信息，根据所述拓扑电路图和所述滤波器参数信息，生成第一仿真测试模型；根据所述拓扑电路图和所述第一仿真测试模型，生成第二仿真测试模型；基于所述第一仿真测试模型和所述第二仿真测试模型，获得仿真测试结果。本申请具有提高判断EMI电源滤波器的滤波质量的准确性的效果。

主权项：1.一种EMI电源滤波器的仿真测试方法，其特征在于，所述EMI电源滤波器的仿真测试方法包括：识别待测电路的电路图，根据预设的电路元件表，生成所述待测电路的拓扑电路图；获取滤波器参数信息，根据所述拓扑电路图和所述滤波器参数信息，生成第一仿真测试模型；根据所述拓扑电路图和所述第一仿真测试模型，生成第二仿真测试模型；基于所述第一仿真测试模型和所述第二仿真测试模型，获得仿真测试结果；所述获取滤波器参数信息，根据所述拓扑电路图和所述滤波器参数信息，生成第一仿真测试模型，具体包括：获取滤波器参数信息，所述滤波器参数信息包括电容容量、漏电流参数和电源线长度参数；根据所述滤波器参数信息和电参数信息，获得所述待测电路的滤波质量影响参数，所述滤波质量影响参数包括电磁耦合影响参数和寄生参数影响参数；根据所述滤波质量影响参数和所述拓扑电路图，生成第一仿真测试模型；所述根据所述拓扑电路图和所述第一仿真测试模型，生成第二仿真测试模型，具体包括：根据所述滤波质量影响参数，获取对比电参数信息，根据所述拓扑电路图和所述对比电参数信息，生成第二拓扑电路图；根据所述第二拓扑电路图和所述第一仿真测试模型，生成第二仿真测试模型；所述基于所述第一仿真测试模型和所述第二仿真测试模型，获得仿真测试结果，具体包括：基于所述第一仿真测试模型和所述第二仿真测试模型，触发频率校准指令；基于所述第一仿真测试模型和所述第二仿真测试模型，以及预设的频率限制阈值，触发仿真测试指令，分别获得第一仿真测试结果和第二仿真测试结果；根据所述第一仿真测试结果和所述第二仿真测试结果，获得仿真测试结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 广州市德珑电子器件有限公司 EMI电源滤波器的仿真测试方法、装置、设备以及介质

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