申请/专利权人：新微比特纳米科技(苏州)有限公司

申请日：2023-04-25

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN220650750U

主分类号：G01R1/073

分类号：G01R1/073;G01R31/28

优先权：["20230213 CN 2023201967365"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权

摘要：本实用新型公开了一种用于测试忆阻器的探针卡，探针卡包括PCB基底、印刷电路、探针阵列、数据连接线接口；数据连接线接口、印刷电路和探针阵列依次电连接；印刷电路自下而上依次由接触点所有PAD高电平信号的印刷电路，相互间隔的部分接触点PAD低电平信号的印刷电路，接触点剩余低电平信号的印刷电路组成。本实用新型采用阵列排布探针，双牛角插座副接线，可测试多种类型的忆阻器芯片，可进行大规模忆阻器芯片系统测试，提高测试效率；可拆卸探针阵列，更换方便，节约成本，延续使用寿命。

主权项：1.一种用于测试忆阻器的探针卡，其特征在于：所述探针卡包括PCB基底、印刷电路、探针阵列、数据连接线接口；所述数据连接线接口、印刷电路和探针阵列依次电连接；所述印刷电路自下而上依次由接触点所有PAD高电平信号的印刷电路，相互间隔的部分接触点PAD低电平信号的印刷电路，接触点剩余低电平信号的印刷电路组成。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 新微比特纳米科技(苏州)有限公司 一种用于测试忆阻器的探针卡

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