申请/专利权人：成都测芯科技有限公司

申请日：2023-07-26

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN220650751U

主分类号：G01R1/073

分类号：G01R1/073

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权

摘要：本实用新型公开一种双面探针台，包括上探针、下探针，下探针位于上探针的下方，上探针安装在上层探针台面，所述上层探针台面安装于龙门机构上，所述下探针安装在下层探针台面；还包括镂空卡盘，镂空卡盘位于上层探针台面与下层探针台面之间；还包括显微镜，显微镜用于观察被测件与上探针、下探针之间的定位。本实用新型能够满足易用性、稳定性和可靠性的要求。

主权项：1.双面探针台，其特征在于：包括上探针、下探针，下探针位于上探针的下方，所述上探针安装在上层探针台面，所述上层探针台面安装于龙门机构上，所述下探针安装在下层探针台面；还包括镂空卡盘，所述镂空卡盘位于上层探针台面与下层探针台面之间；还包括显微镜，所述显微镜用于观察被测件与上探针、下探针之间的定位。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 成都测芯科技有限公司 双面探针台

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