申请/专利权人：上海天新纳米技术有限公司

申请日：2023-09-01

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN220649375U

主分类号：G01B11/04

分类号：G01B11/04

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权

摘要：本实用新型公开了一种超薄纳米晶带材宽度检测装置，包括壳体、宽度检测组件、供料机构和收料机构，所述宽度检测组件安装在壳体的内腔，所述宽度检测组件的一侧设置有供料机构，所述宽度检测组件远离供料机构的一侧设置有收料机构，所述宽度检测组件包括检测台、摄像头模组、支撑柱、伸缩杆、弹簧、底座、立柱、第一辊轮、第二辊轮、出风板和气泵。该超薄纳米晶带材宽度检测装置通过拍照时使纳米晶带材紧贴检测台表面，同时给予纳米晶带材较小的压力，既能有效的检测纳米晶带材的宽度，又能避免纳米晶带材倾斜，而导致检测纳米晶带材宽度结果不准确，同时在对纳米晶带材进行测量时，避免了破坏纳米晶带材的表面光滑度。

主权项：1.一种超薄纳米晶带材宽度检测装置，包括壳体（1）、宽度检测组件（2）、供料机构（3）和收料机构（4），其特征在于：所述宽度检测组件（2）安装在壳体（1）的内腔，所述宽度检测组件（2）的一侧设置有供料机构（3），所述宽度检测组件（2）远离供料机构（3）的一侧设置有收料机构（4），所述宽度检测组件（2）包括检测台（201）和摄像头模组（202），所述检测台（201）通过支撑柱（203）与壳体（1）内腔底端连接，所述支撑柱（203）的内腔纵向设置有伸缩杆（204），且伸缩杆（204）围绕设置有弹簧（205），所述伸缩杆（204）的一端设置有底座（206），所述伸缩杆（204）远离底座（206）的一端设置有立柱（207），且立柱（207）的一端设置有第一辊轮（208），所述检测台（201）与第一辊轮（208）的接触面设置有第二辊轮（209），所述检测台（201）的下方设置有出风板（2010），且出风板（2010）的下方设置有气泵（2011）。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海天新纳米技术有限公司 一种超薄纳米晶带材宽度检测装置

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