申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司

申请日：2022-09-19

公开（公告）日：2024-03-26

公开（公告）号：CN117766007A

主分类号：G11C29/08

分类号：G11C29/08;G11C29/56

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.12#实质审查的生效;2024.03.26#公开

摘要：本公开提供一种内建自测试方法和设备，包括：获取待写入数据的存储区域的第一初始地址，对所述第一初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，根据所述第一压缩写地址向对应的所述存储区域中写入测试数据，获取待读出数据的所述存储区域的第二初始地址，对所述第二初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，根据所述第一压缩读地址对多个所述存储区域对应的所述测试数据进行读取，且在读出过程中对所述测试数据进行压缩处理，根据所述测试数据和预设压缩处理规则计算理想读出数据，比较所述存储器的读出数据和所述理想读出数据，获得测试结果。通过如此设置，提高测试效率。

主权项：1.一种内建自测试方法，其特征在于，存储器包括多个存储区域，所述方法包括：获取待写入数据的存储区域的第一初始地址；对所述第一初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，记被激活的多个所述存储区域的地址为第一压缩写地址；根据所述第一压缩写地址向对应的所述存储区域中写入测试数据；获取待读出数据的所述存储区域的第二初始地址；对所述第二初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，记被激活的多个所述存储区域的地址为第一压缩读地址；根据所述第一压缩读地址对多个所述存储区域对应的所述测试数据进行读取，且在读出过程中对所述测试数据进行压缩处理，以使所述存储器读出的压缩数据位数等于一个所述存储区域读出的未压缩数据的位数；根据所述测试数据和预设压缩处理规则计算理想读出数据，比较所述存储器的读出数据和所述理想读出数据，获得测试结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长鑫存储技术有限公司 内建自测试方法和设备

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