申请/专利权人：北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司

申请日：2023-11-29

公开（公告）日：2024-03-26

公开（公告）号：CN117766015A

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.12#实质审查的生效;2024.03.26#公开

摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种双倍速率同步动态随机存储器芯片的测试装置，包括测试板、功能板卡、电源板卡、电流监控板卡、测试座，测试座上具有独立的加热组件，所述加热组件集成监控温度系统，并通过温度监控系统调节被测芯片的实时温度；冷却模组，用于测试板和电源板卡的独立降温控制；本发明通过测试座的加热组件实现对芯片的独立加热，同时在高温条件下，不引入其他元器件进入高温环境，以防止辅助元器件在高温下失效对测试结果产生影响；集成监控温度系统，并通过温度监控系统调节被测芯片的实时温度，保证测试效果，同时避免测试温度过高而破坏测试板的情况发生。

主权项：1.一种双倍速率同步动态随机存储器芯片的测试装置，其特征在于，包括若干测试座，用于存储器芯片的测试；所述测试座上具有独立的加热组件，所述加热组件集成监控温度系统，并通过温度监控系统调节被测芯片的实时温度；测试板，若干所述测试座设置在测试板上；功能板卡，用于测试板程序控制、与测试板的数据通信以及用于对存储器芯片进行擦写读操作；电源板卡，提供存储器芯片工作所需电压的精密程控电源；电流监控板卡，实时监测被测芯片的漏电流以及动态功耗，实现测试过程中的数据分析；以及冷却模组，用于测试板和电源板卡的独立降温控制。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司 一种双倍速率同步动态随机存储器芯片的测试装置

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