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【发明授权】一种模拟VDES的AIS基带发射信号产生系统及方法_天津讯联科技有限公司_202410009378.1 

申请/专利权人:天津讯联科技有限公司

申请日:2024-01-04

公开(公告)日:2024-03-26

公开(公告)号:CN117526979B

主分类号:H04B1/04

分类号:H04B1/04;H04L1/00;H04L1/20

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.26#授权;2024.02.27#实质审查的生效;2024.02.06#公开

摘要:本发明提供了一种模拟VDES的AIS基带发射信号产生系统及方法,包括测试计算机和模拟VDES的AIS基带发射模块,所述模拟VDES的AIS基带发射模块包括串行通信接口、数据处理模块、GMSK调制模块和变频发射测试模块。本发明有益效果:提高VDES星上产品AIS接收设备批量测试效率,提高测试覆盖率;既可以提供固定频率的基带发射测试数据,也可以根据需要,通过串口更改发射测试数据的内容和频率,提高测试灵活性;可以简化VDES星上产品AIS批量产品测试过程,提高测试效率,操作简单,方便;不依赖于具体的FPGA器件型号,硬件设计灵活度高。

主权项:1.一种模拟VDES的AIS基带发射信号产生方法,其特征在于:所述方法由模拟VDES的AIS基带发射信号产生系统实现,模拟VDES的AIS基带发射信号产生系统包括测试计算机和模拟VDES的AIS基带发射模块,所述模拟VDES的AIS基带发射模块包括串行通信接口、数据处理模块、GMSK调制模块和变频发射测试模块,所述测试计算机与模拟VDES的AIS基带发射模块通过串行通信接口连接,所述串行通信接口还依次通过数据处理模块、GMSK调制模块与变频发射测试模块信号连接;所述GMSK调制模块包括相移调制单元、振荡器、相位锁相环单元,相移调制单元输入端分别与数据处理模块、振荡器信号连接,相移调制单元输出端通过相位锁相环单元信号连接至变频发射测试模块;所述方法包括基于定时信号的AIS基带发射信号产生方法和基于发射控制信号的AIS基带发射信号产生方法,基于定时信号的AIS基带发射信号产生方法包括以下步骤:A1、串行通信接口接收测试计算机发送的AIS数据帧的帧头数据、AIS原始数据,并按照接收的先后顺序存储进FPGA的串口接收FIFO数据缓存器;A2、串口接收FIFO数据缓存器接收步骤A1中的帧头数据、AIS原始数据后,并将帧头数据、AIS原始数据传输给数据处理模块;A3、数据处理模块接收到步骤A2中的帧头数据、AIS原始数据后,对帧头数据、AIS原始数据进行数据处理,并将处理后的数据存储至数据处理模块的SRAM内;A4、SRAM依据自身的定时信号读取当前SRAM中的数据,产生发射测试数据送到GMSK调制模块;A5、GMSK调制模块接收发射测试数据,并对发射测试数据进行GMSK调制后得到基带发射测试数据,并将基带发射测试数据传输至变频发射测试模块;A6、变频发射测试模块将基带发射测试数据调制成频带信号后经信道发射。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 天津讯联科技有限公司 一种模拟VDES的AIS基带发射信号产生系统及方法

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