申请/专利权人：中国电子科技集团公司第二十九研究所

申请日：2024-02-28

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN117787189A

主分类号：G06F30/392

分类号：G06F30/392;G06F115/12

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要：本发明公开了一种曲面随形电阻阻值校正方法，包括：S1：选定制备方法并设定工艺参数，根据选定的制备方法和工艺参数，设计平面尺寸获得方阻平面尺寸的参数；S2：根据当前模型的三维曲面的指定位置，利用壳建模的方式，设计曲面随形电阻形状特征，获得对应的曲面方程；S3：根据曲面方程计算曲面随形电阻长宽比，获得长宽比的积分形式；S4：利用平面膜状电阻的阻值计算方式，计算曲面随形电阻的阻值。S5：将计算得到的曲面随形电阻的阻值与目标阻值进行对比，基于设定的差异阈值，对曲面随形电阻形状特征进行修正。本发明相较于传统试阻方式，实现了准确、高效、普适地对基于给定阻值的任意曲面随形电阻形状特征的设计。

主权项：1.一种曲面随形电阻阻值校正方法，其特征在于，包括：S1：选定制备方法并设定工艺参数，根据选定的制备方法和工艺参数，设计平面尺寸获得方阻平面尺寸的参数；S2：根据当前模型的三维曲面的指定位置，利用壳建模的方式，设计曲面随形电阻形状特征，获得对应的曲面方程；S3：根据曲面方程计算曲面随形电阻长宽比，获得长宽比的积分形式；S4：基于积分形式的长宽比，利用平面膜状电阻的阻值计算方式，计算曲面随形电阻的阻值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种曲面随形电阻阻值校正方法

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