申请/专利权人：深圳市海里表面技术处理有限公司

申请日：2023-11-20

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN117274247B

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G06T7/136;G06T7/90

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.29#授权;2024.01.09#实质审查的生效;2023.12.22#公开

摘要：本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种LTCC导体表面镀层质量视觉检测方法，包括：采集LTCC导体表面镀层的LTCC导体灰度图像；根据LTCC导体灰度图像得到初始导线窗口，获取初始导线窗口的聚集程度；根据聚集程度得到明显程度；根据明显程度得到高缺陷窗口以及低缺陷窗口；获取每个高缺陷窗口的优化自适应阈值；获取低缺陷窗口的参考窗口范围；根据低缺陷窗口的参考窗口范围得到每个低缺陷窗口的优化自适应阈值；根据高缺陷窗口、低缺陷窗口的优化自适应阈值进行质量检测。本发明提高了分割结果的准确性，提高了质量检测的准确性。

主权项：1.一种LTCC导体表面镀层质量视觉检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：采集LTCC导体表面镀层的LTCC导体灰度图像；对LTCC导体灰度图像进行窗口划分得到窗口，对窗口进行筛选得到初始导线窗口，所述初始导线窗口是指包含导线部分的窗口，初始导线窗口包含多个初始残留像素点；根据初始残留像素点得到每个初始导线窗口内初始残留像素点的聚集程度；根据聚集程度得到每个初始导线窗口的明显程度；根据明显程度对初始导线窗口进行筛选得到高缺陷窗口以及低缺陷窗口；根据高缺陷窗口内像素点的灰度值得到每个高缺陷窗口的优化自适应阈值；对低缺陷窗口进行范围划分得到每个低缺陷窗口的参考窗口范围；将每个参考窗口范围内存在高缺陷窗口的低缺陷窗口记为可优化低缺陷窗口，将每个参考窗口范围内不存在高缺陷窗口的低缺陷窗口记为常规低缺陷窗口；根据可优化低缺陷窗口的参考窗口范围内高缺陷窗口的优化自适应阈值以及分布关系，得到每个可优化低缺陷窗口的初始修正因子；根据初始修正因子得到每个可优化低缺陷窗口的优化自适应阈值；将每个常规低缺陷窗口内所有像素点的灰度值的均值记为每个常规低缺陷窗口的优化自适应阈值；根据高缺陷窗口、可优化低缺陷窗口以及常规低缺陷窗口的优化自适应阈值进行质量检测；所述根据高缺陷窗口内像素点的灰度值得到每个高缺陷窗口的优化自适应阈值，包括的具体方法为： 对于任意一个高缺陷窗口，式中，表示高缺陷窗口的优化自适应阈值；表示高缺陷窗口内所有像素点的数量；表示高缺陷窗口内第个像素点的灰度值；表示高缺陷窗口内所有像素点的最小灰度值；表示高缺陷窗口内所有像素点的最大灰度值；表示预设的超参数；表示取绝对值；表示向上取整。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市海里表面技术处理有限公司 一种LTCC导体表面镀层质量视觉检测方法

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