申请/专利权人：塞尼斯公司

申请日：2022-08-09

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117813521A

主分类号：G01R33/00

分类号：G01R33/00;G01R33/07;G01R35/00;G01R33/02

优先权：["20210810 CH CH070147/2021","20220314 EP 22020110.7"]

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.02#公开

摘要：本发明涉及一种用于对磁传感器和或校准磁体进行校准的方法，所述传感器在经受磁场时展示由表示的输出电压V，其中，V0表示所述磁传感器的偏移电压，并且表示所述磁传感器的灵敏度矢量和磁场矢量的标量积，所述方法包括如下步骤：a.针对所述磁传感器相对于所述磁场的第一取向测量第一输出电压V1；b.相对于所述磁场旋转所述磁传感器，以采取N‑1个另外的取向，其中，并且每一个取向由旋转矩阵定义，其中，对于n∈{2,…,N}，并且对于n≠m∈{2,…,N}，c.对于每一个另外的取向，测量一个另外的输出电压Vn，其中，n∈{2；…；N}；以及d.针对V0、Sx、Sy、Sz、Bx、By和或Bz中的一个或多个，对一组N个方程式进行求解，其中，

主权项：1.一种用于对磁传感器和或校准磁体进行校准的方法，所述传感器在经受磁场时展示由表示的输出电压V，其中，V0表示所述磁传感器的偏移电压，并且表示所述磁传感器的灵敏度矢量和磁场矢量的标量积，所述方法包括如下步骤：a.针对所述磁传感器相对于所述磁场的第一取向测量第一输出电压V1；b.相对于所述磁场旋转所述磁传感器，以采取N-1个另外的取向，其中，并且每一个取向由旋转矩阵定义，其中，对于n∈{2,…,N}，并且对于n≠m∈{2,…,N}，c.对于每一个另外的取向，测量一个另外的输出电压Vn，其中，n∈{2；…；N}；以及d.针对V0、Sx、Sy、Sz、Bx、By和或Bz中的一个或多个，对一组N个方程式进行求解，其中，

全文数据：

权利要求：

百度查询： 塞尼斯公司 用于对磁传感器和/或校准磁体进行校准的方法和装置

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