申请/专利权人：中广核核电运营有限公司

申请日：2023-12-29

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117805585A

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R1/04;G01R1/02;G01R1/30

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本申请涉及一种测试电路，包括：激励模块和驱动测试模块，激励模块用于接收电参数，并根据电参数生成激励信号；驱动测试模块与激励模块连接，驱动测试模块用于接收激励信号，并对激励信号进行不同程度的变压处理，以生成目标测试信号，以及检测待测器件在目标测试信号的作用下的测试结果。本申请通过驱动测试模块对激励信号进行变压处理，可以根据测试需求灵活控制目标测试信号的参数，从而满足测试需求，解决了现有技术中测试方法单一的问题。

主权项：1.一种测试电路，其特征在于，包括：激励模块，用于接收电参数，并根据所述电参数生成激励信号；驱动测试模块，与所述激励模块连接，所述驱动测试模块用于接收所述激励信号，并对所述激励信号进行不同程度的变压处理，以生成目标测试信号，以及检测待测器件在所述目标测试信号的作用下的测试结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中广核核电运营有限公司 测试电路及测试箱

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