申请/专利权人：深圳市凌云视迅科技有限责任公司

申请日：2023-12-29

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117805142A

主分类号：G01N21/958

分类号：G01N21/958

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本发明公开了一种缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质。缺陷检测方法包括：在第一光源下获取待测样品的第一原始图像以及在第二光源下获取待测样品的第二原始图像；对第一原始图像进行处理以获得第一检测区域；利用第一检测区域在第二原始图像中寻找是否存在第二检测区域；在第二原始图像不存在对应的第二检测区域的情况下，确认第一检测区域为干扰因素区域，在第二原始图像存在对应的第二检测区域的情况下，确认存在第二检测区域的第一检测区域为缺陷区域。上述缺陷检测方法，获取两种光源环境下的原始图像，在第一检测区域搜索第二检测区域有无，可以分辨出缺陷区域和干扰因素区域，从而能够准确提取光源，减少漏检或过检的现象。

主权项：1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括:在第一光源下获取待测样品的第一原始图像以及在第二光源下获取所述待测样品的第二原始图像，所述第一光源配置为能够对待测样品上的干扰因素成像，所述第二光源配置为对待测样品上的干扰因素不成像；对所述第一原始图像进行处理以获得第一检测区域；利用第一检测区域在第二原始图像中寻找是否存在第二检测区域，所述第二检测区域是待测样品存在缺陷时所形成的区域；在所述第二原始图像不存在对应的所述第二检测区域的情况下，确认所述第一检测区域为干扰因素区域，在所述第二原始图像存在对应的所述第二检测区域的情况下，确认存在所述第二检测区域的所述第一检测区域为缺陷区域。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市凌云视迅科技有限责任公司 缺陷检测方法、缺陷检测装置和计算机可读存储介质

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