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【发明公布】3D异质集成的动态随机存储器结构及其制造方法_中国科学院微电子研究所_202311532258.1 

申请/专利权人:中国科学院微电子研究所

申请日:2023-11-16

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117812912A

主分类号:H10B12/00

分类号:H10B12/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要:本发明涉及一种3D异质集成的动态随机存储器结构及其制造方法。结构包括由下至上层叠的衬底、第一层晶体管和第二层晶体管;所述第一层晶体管采用环绕栅极场效应晶体管,并且所述第一层晶体管中的沟道采用单晶半导体材料;所述第二层晶体管采用金属氧化物薄膜晶体管,并且所述第二层晶体管中的沟道采用非晶态和或多晶态半导体材料;所述第一层晶体管中栅极与所述第二层晶体管的源极或漏极互连。本发明将IGZO器件与Si基器件混合使用,既可以保证高保持时间,又能避免更多的读出错误,增大内存窗口。

主权项:1.3D异质集成的动态随机存储器结构,其特征在于,包括由下至上层叠的衬底、第一层晶体管和第二层晶体管;所述第一层晶体管采用环绕栅极场效应晶体管,并且所述第一层晶体管中的沟道采用单晶半导体材料;所述第二层晶体管采用金属氧化物薄膜晶体管,并且所述第二层晶体管中的沟道采用非晶态和或多晶态半导体材料;所述第一层晶体管中栅极与所述第二层晶体管的源极或漏极互连。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院微电子研究所 3D异质集成的动态随机存储器结构及其制造方法

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