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【发明公布】一种星载综合电子分系统的测试系统及测试方法_浙江时空道宇科技有限公司;浙江吉利控股集团有限公司_202311864498.1 

申请/专利权人:浙江时空道宇科技有限公司;浙江吉利控股集团有限公司

申请日:2023-12-29

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117805529A

主分类号:G01R31/00

分类号:G01R31/00;G01R1/04;G06F11/36;G06F11/26

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要:本发明提供了一种星载综合电子分系统的测试系统及测试方法,测试系统包括:主机端,被配置为根据预设的测试指令遥测配置表,获取测试任务及其测试顺序;以及测试主板,被配置为根据所述测试任务,生成对应的激励信号,并将所述激励信号发送至星载综合电子分系统的被测端口;其中,所述测试主板还被配置为接收所述星载综合电子分系统的反馈信号,并对其进行解析,以生成反馈数据;所述测试主板还被配置为根据所述反馈数据与预设的判据要求进行对比,生成测试结果。通过本发明提供的星载综合电子分系统的测试系统及测试方法,以便于对星载综合电子分系统的各项功能进行遍历测试。

主权项:1.一种星载综合电子分系统的测试系统,其特征在于,包括:主机端,被配置为根据预设的测试指令遥测配置表,获取测试任务及其测试顺序;以及测试主板,被配置为根据所述测试任务,生成对应的激励信号,并将所述激励信号发送至星载综合电子分系统的被测端口;其中,所述测试主板还被配置为接收所述星载综合电子分系统的反馈信号,并对其进行解析,以生成反馈数据;所述测试主板还被配置为根据所述反馈数据与预设的判据要求进行对比,生成测试结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 浙江时空道宇科技有限公司;浙江吉利控股集团有限公司 一种星载综合电子分系统的测试系统及测试方法

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