申请/专利权人：西安瀚博电子科技有限公司

申请日：2024-02-29

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117805754A

主分类号：G01S7/40

分类号：G01S7/40

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本发明公开了一种基于幅相电控技术的高效近场RCS测试方法及系统，属于雷达目标特性测试领域，在二维平面布置多个馈源天线；通过衰减器和移相器控制馈源天线发射电磁波的初始相位和幅度，模拟扫描设备任意位置的电磁波发射；接收回波信号时，所有馈源天线通过接收端多通道开关切换至接收通道，将相邻两个接收通道接收到的回波信号进行相位叠加，作为当前点位采集的回波信号数据；获取所有需要点位的回波信号数据后，通过三维成像算法进行SAR成像；根据SAR成像获取散射中心分布，利用散射中心分布与RCS之间的关系，获取最终需要的RCS结果。本发明通过幅相电控技术实现不同测量点位的电切换功能，实现三维目标的近场RCS快速测量。

主权项：1.基于幅相电控技术的高效近场RCS测试方法，其特征在于，包括以下步骤：在二维平面布置多个馈源天线；通过衰减器和移相器控制馈源天线发射电磁波的初始相位和幅度，模拟扫描设备任意位置的电磁波发射；接收回波信号时，所有馈源天线通过接收端多通道开关切换至接收通道，将相邻两个接收通道接收到的回波信号进行相位叠加，作为当前点位采集的回波信号数据；获取所有需要点位的回波信号数据后，通过三维成像算法进行SAR成像；根据SAR成像获取散射中心分布，利用散射中心分布与RCS之间的关系，获取最终需要的RCS结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西安瀚博电子科技有限公司 基于幅相电控技术的高效近场RCS测试方法及系统

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