申请/专利权人：北京理工大学

申请日：2024-01-25

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117630511B

主分类号：G01R29/10

分类号：G01R29/10;G01S7/40

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.05#授权;2024.03.19#实质审查的生效;2024.03.01#公开

摘要：本发明涉及微波测量领域，目的在于提供基于龙伯透镜天线的等效远场RCS测量方法及系统,该方法包括：根据所需测量频率设计加工龙伯透镜天线；将龙伯透镜天线置于微波暗室中，测量龙伯透镜天线的参数；根据龙伯透镜天线的参数和测量目标的尺寸，计算龙伯透镜天线到测量目标的测量距离；根据测量距离对龙伯透镜天线进行定位；利用龙伯透镜天线对测量目标进行测量，得到回波数据；将回波数据传输至上位机进行数据处理，得到测量目标在该测量频率下的等效远场RCS。降低了大型目标的RCS测量距离，从而降低测量难度。

主权项：1.基于龙伯透镜天线的等效远场RCS测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、根据所需测量频率设置龙伯透镜天线；步骤2、将所述龙伯透镜天线置于微波暗室中，测量龙伯透镜天线的参数；步骤3、根据所述龙伯透镜天线的参数和测量目标的尺寸，计算龙伯透镜天线到测量目标的测量距离；步骤4、根据所述测量距离对龙伯透镜天线进行定位；步骤5、利用所述龙伯透镜天线对测量目标进行测量，得到回波数据；步骤6、所述龙伯透镜天线将回波数据传输至上位机进行数据处理，得到测量目标在该测量频率下的等效远场RCS；其中计算龙伯透镜天线到测量目标的测量距离的具体步骤包括：获取所述测量目标的最大尺寸和龙伯透镜天线的半功率点波束宽度，利用公式（3），得到龙伯透镜天线到测量目标的测量距离； ；其中，表示龙伯透镜天线到测量目标的测量距离；表示测量目标的最大尺寸；表示龙伯透镜天线的半功率点波束宽度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京理工大学 基于龙伯透镜天线的等效远场RCS测量方法及系统

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