申请/专利权人：电子科技大学

申请日：2022-06-28

公开（公告）日：2024-04-23

公开（公告）号：CN115100269B

主分类号：G06T7/557

分类号：G06T7/557;G06T5/20;G06T5/70

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.23#授权;2022.10.14#实质审查的生效;2022.09.23#公开

摘要：本发明公开了一种光场图像深度估计方法、系统、电子设备及存储介质，涉及光场图像处理领域，解决了解决现有的现有传统光场深度估计方法难以获得全局误差小且精度高的深度图，本发明在获得重聚焦图时没有用到插值，而是利用傅里叶相移定理得到位移子孔径图像，这样获得的重聚焦图像相较于插值方法有更高的精度；其次，在对优化匹配初始深度中，利用梯度随位移量的变化曲线在最佳位移量附近表现出对称峰特性，并加入匹配初始深度进行深度优化，这样在修正了重聚焦深度估计全局误差大的缺点的同时将重聚焦深度估计细节信息完备的优点发挥出来，得到结果相较于重聚焦深度估计和立体匹配深度估计都更为优异，兼顾了全局误差以及精度。

主权项：1.一种光场图像深度估计方法，其特征在于，包括：对一幅光场图像进行标定和校正处理，获得光场图像对应的子孔径图像，其中对所述子孔径图像进行编号，其中编号完成的子孔径图像包括中心孔径图像和非中心孔径图像；所述非中心孔径图像在频域中相移后变换到空域获得位移子孔径图像；将所述位移子孔径图像中相同位置的像素求和后再求平均获得一张重聚焦图；计算所述重聚焦图的像素点对应的梯度；将所述中心孔径图像和所述位移子孔径图像相同位置处的像素点求绝对差再对所有子孔径图像结果求和，获得像素点对应的匹配代价；取像素点对应的所述匹配代价最小的位移量作为像素值得到匹配初始深度；根据像素点对应的梯度随位移量变化的变化曲线对所述匹配初始深度进行优化，得到优化深度图；其中，优化深度图的获得具体包括：所述变化曲线存在峰值对称的波峰，则波峰所对应的位移量为深度值；或者，所述变化曲线存在对称峰，则最大的峰值点所对应的位移量为深度值；或者，所述变化曲线不存在对称峰，则匹配初始深度为深度值；以所述中心孔径图像为特征图对所述优化深度图进行加权中值滤波处理，获得高精度的深度图。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 电子科技大学 一种光场图像深度估计方法、系统、电子设备及存储介质

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD