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【发明授权】偏振控制器性能测试方法及系统、装置_华南师范大学_202311331675.X 

申请/专利权人:华南师范大学

申请日:2023-10-13

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117193261B

主分类号:G05B23/02

分类号:G05B23/02

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.02#授权;2023.12.26#实质审查的生效;2023.12.08#公开

摘要:本发明涉及光偏振控制领域,提供一种偏振控制器性能测试方法及系统、装置,其中偏振控制器性能测试方法包括:建立邦加球模型,并将邦加球模型划分为若干个测试区域;将随机选取的若干个电压值组合输入偏振控制器,偏振控制器基于电压值组合改变偏振光的偏振态;使用邦加球模型上的点位对偏振光的偏振态进行记录;计算邦加球模型上每个测试区域中的点位的密度,并与预设密度阈值进行比较;若每个测试区域的点位的密度均大于或者等于预设密度阈值,确定偏振控制器可以实现完全偏振控制,用以解决现有技术无法有效判断偏振控制器是否存在盲区问题的技术问题,可以快速、有效地评估偏振控制器的性能,节省时间和人力资源。

主权项:1.偏振控制器性能测试方法,其特征在于,包括:建立邦加球模型,并将所述邦加球模型划分为若干个测试区域;将随机选取的若干个电压值组合输入偏振控制器,偏振控制器基于所述电压值组合改变偏振光的偏振态;使用所述邦加球模型上的点位对所述偏振光的偏振态进行记录;计算所述邦加球模型上每个所述测试区域中的所述点位的密度,并与预设密度阈值进行比较;若每个所述测试区域的所述点位的密度均大于或者等于所述预设密度阈值,确定所述偏振控制器可以实现完全偏振控制;若存在至少一个所述测试区域的所述点位的密度小于所述预设密度阈值,重新随机选取电压值组合,并利用重新随机选取的电压值组合对偏振光进行偏振控制;再次计算所述邦加球模型上每个所述区域中的所述点位的密度,并与预设密度阈值进行比较;若重新随机选取电压值组合的次数达到预设次数,确定所述偏振控制器不能实现完全偏振控制。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 华南师范大学 偏振控制器性能测试方法及系统、装置

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