申请/专利权人：成都恒晶科技有限公司

申请日：2020-11-26

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN112595890B

主分类号：G01R23/06

分类号：G01R23/06

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2021.04.23#实质审查的生效;2021.04.02#公开

摘要：本发明一种压控晶振频率测试系统，包括测试板本体，测试板本体上分别设置有待测试压控晶振频率、标志频率源，待测试压控晶振频率、标志频率源通过锁相环进行锁相，锁相环输出符合要求频率及压控范围符合要求的压控晶振，锁相环能正常锁定，否则不能锁定，根据锁相环路输出锁相结果，完成压控晶振测试，测试板上采用多个锁相环，同时进行多路压控晶振测试，本发明可以同时进行多路压控晶振频率测试，可以提供压控晶振测试效率，降低测试成本，提高测试效率。

主权项：1.一种压控晶振频率测试方法，该方法基于压控晶振频率测试系统实现，其特征在于，所述压控晶振频率测试系统包括测试板本体，所述测试板本体上分别设置有待测试压控晶振频率、标志频率源，所述待测试压控晶振频率、标志频率源通过锁相环进行锁相；所述锁相环输出符合要求频率及压控范围符合要求的压控晶振，锁相环能正常锁定，否则不能锁定，根据锁相环路输出锁相结果，完成压控晶振测试；所述测试板上采用多个锁相环，同时进行多路压控晶振测试；所述方法包括如下步骤：步骤S1:根据锁相环原理，对符合锁相要求的晶振，正常锁相；步骤S2:输入标志频率源，通过铷钟或北斗卫星时钟源提供标准时钟；步骤S3:锁相环实现，前端输入标准频率处理为与被测试VCXO相同频率，降低锁相环模块功能要求，锁相环模块不用进行分频对准，直接进行鉴相比较；步骤S4:测试结果通过测试总线输出到上位机电脑进行记录，完成测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 成都恒晶科技有限公司 一种压控晶振频率测试系统及方案

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