申请/专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院

申请日：2021-06-24

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN113551878B

主分类号：G01M11/02

分类号：G01M11/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2021.11.12#实质审查的生效;2021.10.26#公开

摘要：本发明属于激光光束质量测量和光纤传光的技术领域，尤其涉及一种基于光纤阵列的激光光束质量测量装置，包括依次设置的稀疏排布孔板、光纤阵列组件、紧密排布孔板、光学镜片组件、CCD相机。本发明通过由疏到密分布的光纤阵列将大面积光斑整体等比缩小，使用CCD相机直接拍摄缩小后的光斑，从而消除CCD相机拍摄畸变的影响，增大系统可精准测量的光斑面积。

主权项：1.一种基于光纤阵列的激光光束质量测量装置，其特征在于，包括依次设置的稀疏排布孔板1、光纤阵列组件、紧密排布孔板3、光学镜片组件、CCD相机5；还包括壳体6，所述壳体6的两端分别通过稀疏排布孔板1和后盖板密封；所述光纤阵列组件包括连接在稀疏排布孔板1和紧密排布孔板3中间的光纤阵列21；所述紧密排布孔板3上的第二安装孔30与光纤阵列组件中的光纤单元一一对应；所述光纤阵列21为J型布置，所述光学镜片组件和CCD相机5位于J型布置的短边直线上。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院合肥物质科学研究院 一种基于光纤阵列的激光光束质量测量装置

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD