申请/专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院

申请日：2020-08-14

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN114135264B

主分类号：E21B43/26

分类号：E21B43/26;E21B47/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2022.03.22#实质审查的生效;2022.03.04#公开

摘要：本发明公开了一种确定致密砂岩微裂缝发育程度的方法，包括分析致密砂岩样本的微裂缝面孔率，用于表征致密砂岩的微裂缝地层的发育程度；根据致密砂岩样本的深电阻率和冲洗带电阻率，确定致密砂岩的微裂缝地层的电阻率差异度；基于测井曲线，利用测井声波和测井密度计算微裂缝地层的波阻抗；统计分析微裂缝地层的发育程度、电阻率差异度和波阻抗之间的关系,建立用于根据电阻率差异度和波阻抗确定微裂缝发育程度的计算式；利用所述计算式，根据致密砂岩待测微裂缝地层的电阻率差异度和波阻抗估算该微裂缝地层的微裂缝发育程度。本发明提供的微裂缝发育程度计算方法，易于实施，可操作性强。

主权项：1.一种确定致密砂岩微裂缝发育程度的方法，包括以下步骤：分析致密砂岩样本的微裂缝面孔率，用于表征致密砂岩的微裂缝地层的发育程度，其中，分析致密砂岩样本的微裂缝面孔率，包括以下步骤：获取致密砂岩岩心薄片,作为致密砂岩样本；对岩心分析数据进行归位深度校正，并利用岩心深度校正量对薄片深度进行校正；利用深度校正后的薄片数据确定微裂缝面孔率；根据致密砂岩样本的深电阻率和冲洗带电阻率，确定致密砂岩的微裂缝地层的电阻率差异度，其中，根据下式确定致密砂岩的微裂缝地层的电阻率差异度：RD＝lgRTRXO式中，RD为微裂缝地层的电阻率差异度，RT为微裂缝地层的深电阻率；RXO为微裂缝地层的冲洗带电阻率；基于测井曲线，利用测井声波和测井密度计算微裂缝地层的波阻抗；统计分析微裂缝地层的发育程度、电阻率差异度和波阻抗之间的关系,建立用于根据电阻率差异度和波阻抗确定微裂缝发育程度的计算式，包括：通过统计分析确定微裂缝地层的发育程度与电阻率差异度之间的第一关系，第一关系为正相关关系；通过统计分析确定微裂缝地层的发育程度与波阻抗之间的第二关系，第二关系为负相关关系；利用多元回归法，根据所述第一和第二关系建立用于根据电阻率差异度和波阻抗确定微裂缝发育程度的计算式，所述计算式为：MFDD＝a*AI*RD+b*RD+c*RDAI+d式中，MFDD为微裂缝发育程度，RD为电阻率差异度、AI为波阻抗，a、b、c、d为系数；利用所述计算式，根据致密砂岩待测微裂缝地层的电阻率差异度和波阻抗估算该微裂缝地层的微裂缝发育程度。

全文数据：

权利要求：

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