申请/专利权人:深圳市凯中精密技术股份有限公司
申请日:2023-09-05
公开(公告)日:2024-04-02
公开(公告)号:CN220709368U
主分类号:G01V3/12
分类号:G01V3/12;G01V1/00;G01V8/10;G01V9/00
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.04.02#授权
摘要:本实用新型公开了一种漏装检测基台及设备,漏装检测基台包括检测台、定位结构和锁止结构。在检测台上设置检测槽,检测槽内设有可与金属嵌件形成闭合回路的检测元件,以用于检测待检测件。为保证金属嵌件可对准延伸至检测槽内,通过定位结构限制待检测件的水平位移以及角位移,通过锁止结构限制待检测件的垂直位移,保证金属嵌件可对准延伸至检测槽内与检测元件连接,从而保证待检测件在检测过程中的稳定性,提高检测结构的精确度。同时通过该漏装检测基台,可避免人为因素的影响,进一步提高检测的精确度,减少人力成本。
主权项:1.一种漏装检测基台,适用于注塑金属嵌件,其特征在于,包括:检测台1,所述检测台1上设有检测槽131;定位结构2,所述定位结构2设置于所述检测台1上,所述定位结构2与待检测件4的内侧和或外侧抵接,并使得所述待检测件4的金属嵌件对准延伸至所述检测槽131内;锁止结构3,设于所述检测台1上,所述锁止结构3适于将所述待检测件4固定在所述检测台1上。
全文数据:
权利要求:
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