申请/专利权人：中国工程物理研究院材料研究所

申请日：2023-12-20

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117848917A

主分类号：G01N15/0227

分类号：G01N15/0227;G01N1/22;G02B27/09;G02B27/12;G02B27/28

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明公开了一种测量固体气溶胶粒径的光学捕获成像装置及其测量方法，测量固体气溶胶粒径的光学捕获成像装置包括光学捕获装置和光学成像装置，光学捕获装置用于形成光阱，以通过光阱来捕获气氛环境中的固体气溶胶，光学成像装置用于采集光阱中固体气溶胶的光学图像。本发明中，光学捕获装置可形成光阱，以通过光阱来捕获气氛环境中的固体气溶胶，光学成像装置可采集该光阱所捕获固体气溶胶的光学图像，且可根据该固体气溶胶的光学图像所占像素数目和成像分辨率，计算得到固体气溶胶的粒径，从而原位测量环境中固体气溶胶的粒径，进而避免检测结果因受机械作用而被影响。

主权项：1.一种测量固体气溶胶粒径的光学捕获成像装置，其特征在于，包括：光学捕获装置，所述光学捕获装置用于形成光阱，以通过光阱来捕获气氛环境中的固体气溶胶14；光学成像装置，所述光学成像装置用于采集光阱中固体气溶胶14的光学图像。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国工程物理研究院材料研究所 测量固体气溶胶粒径的光学捕获成像装置及其测量方法

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