申请/专利权人：上海交通大学

申请日：2022-09-30

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117849690A

主分类号：G01R35/02

分类号：G01R35/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明提供一种校准方法、校准装置、介质及电子设备。所述校准方法应用于磁追踪系统，所述磁追踪系统包括至少一个传感器和至少一个磁铁，包括：基于各待校准传感器对应的控制电流和和各待校准传感器的第一读数，获取各待校准传感器的软铁系数；基于所述软铁系数，对各所述待校准传感器进行软铁校准；基于各所述待校准传感器的第一读数和各待校准传感器的第二读数，对各所述待校准传感器进行硬铁校准。所述校准方法能够节约成本并实现性能更佳的磁追踪。

主权项：1.一种校准方法，其特征在于，应用于磁追踪系统，所述磁追踪系统包括至少一个传感器和至少一个磁铁，所述校准方法包括：基于各待校准传感器对应的控制电流和和各待校准传感器的第一读数，获取各待校准传感器的软铁系数；基于所述软铁系数，对各所述待校准传感器进行软铁校准；基于各所述待校准传感器的第一读数和各待校准传感器的第二读数，对各所述待校准传感器进行硬铁校准。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海交通大学 校准方法、校准装置、介质及电子设备

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