申请/专利权人：上海电气集团股份有限公司

申请日：2024-01-08

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117848239A

主分类号：G01B11/255

分类号：G01B11/255;G06T7/62;G06T7/73;G06T7/80;G06V10/46

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明公开了曲率半径的测量方法、装置、电子设备和存储介质。曲率半径的测量方法包括：获取带有标志点的待测设备的图像，并确定标志点的第一标志点坐标；其中，第一标志点坐标为相机坐标系下的标志点的三维坐标；基于第一标志点坐标，拟合空间平面，计算空间平面与世界坐标系的欧拉角；根据欧拉角将空间平面旋转至世界坐标系，得到第二标志点坐标；其中，第二标志点坐标为世界坐标系下的标志点的三维坐标；基于第二标志点坐标，确定待测设备的曲率半径。本发明利用不同坐标系下标志点的三维坐标，得到待测设备的曲率半径，提高测量效率，将空间平面旋转至世界坐标系，有效减小测量误差，提升曲率半径的测量精度。

主权项：1.一种曲率半径的测量方法，其特征在于，所述曲率半径的测量方法包括：获取带有标志点的待测设备的图像，并确定所述标志点的第一标志点坐标；其中，所述第一标志点坐标为相机坐标系下的所述标志点的三维坐标；基于所述第一标志点坐标，拟合空间平面，计算所述空间平面与世界坐标系的欧拉角；根据所述欧拉角将所述空间平面旋转至所述世界坐标系，得到第二标志点坐标；其中，所述第二标志点坐标为所述世界坐标系下的所述标志点的三维坐标；基于所述第二标志点坐标，确定所述待测设备的曲率半径。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海电气集团股份有限公司 曲率半径的测量方法、装置、电子设备和存储介质

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