申请/专利权人：深空探测实验室(天都实验室)

申请日：2024-01-17

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117848928A

主分类号：G01N15/1429

分类号：G01N15/1429;G01N15/149

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：基于多角度散射光谱的星表单颗粒物粒形识别装置及方法，属于光学检测技术领域，解决如何提高气溶胶单颗粒物粒形识别准确性的问题，本发明通过对采集的多通道光谱数据进行降噪处理以作为待分析数据，通过给定阈值与双高斯拟合结合法以及同时域叠加法依次提取各光谱数据信号特征值对提取的单颗粒物光谱信息进行飞行时间筛选、非线性预处理及偏最小二乘判别分析，并基于分析结果提出单颗粒物粒形识别模型；本发明提高了多角度光散射光谱数据提取准确率及效率，降低了不同光电探测器光电转换效率差异的影响，有效提高了基于多角度光散射光谱数据的星表单颗粒物粒形识别方法的准确性。

主权项：1.基于多角度散射光谱的星表单颗粒物粒形识别装置，其特征在于，包括：颗粒物束流装置1、第一激光器2、反射镜3、第二激光器4、第一光束终止器5、颗粒物6、第一探测器7、第二光束终止器8、第二探测器9、第三探测器10、第四探测器11；装置的工作流程为：颗粒物从大气环境中被吸入后进入束流装置1，第一激光器2入射的激光经过颗粒物后，产生的散射光经反射镜3反射后被第一探测器7接收；第二激光器4入射的激光经过颗粒物后，产生的散射光分别被第二探测器9、第三探测器10、第四探测器11接收；两束入射的激光分别被第一光束终止器5及第二光束终止器8终止；第一探测器7、第二探测器9、第三探测器10、第四探测器11接收的散射光用于颗粒物的粒形分析。

全文数据：

权利要求：

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